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你知道嗎？我們每天手握的手機屏幕上，可能也隱藏著一層“看不見的涂層"。它或許與手感、反光、耐刮、抗污有關，但究竟有沒有？能不能測？怎么測？
工業物理技術團隊決定來一次探索性實測：我們選取了幾臺市面上的常見品牌手機，嘗試用 SpecMetrix® ROI 增強光學干涉膜厚測量系統，測量手機屏幕表面可能存在的涂層厚度。這是一場從假設出發的測試，也是 SpecMetrix 在玻璃涂層領域的一次“好奇心驅動的實驗"。
本次測試由工業物理中國上海實驗室團隊執行，選取2臺華為手機與2臺蘋果手機，使用旗下 SpecMetrix® 實驗室版涂層厚度分析儀，采用非接觸式光學干涉技術，對每臺手機屏幕選定區域進行了5次重復測量，測量波長為1051–1710nm，涂層折射率設定為1.55。
?? 測試結果如下圖所示（單位：μm）：
結論令人驚喜：四臺手機測得的涂層厚度均集中在 13μm左右，雖然涂層成分未知，但可以初步推測玻璃表面確實存在一層功能性涂層。
SpecMetrix® 系統基于ROI增強光學干涉技術，相比傳統白光干涉方法，具備更強適應性與穩定性，尤其適合于：
• 有色、透明、多層涂層材料
• 非接觸測量、高重復性要求的精密工藝
?? 核心技術優勢包括：
• 非接觸 · 非破壞式測量，支持透明/有色/復合涂層
• 測量范圍廣：0.3–250μm，適配各類膜材
• 小光斑高精度：典型測量點為1 mm2，支持掃描平均
• 免校準、高效率：自動分析干涉光譜，快速輸出絕對膜厚
• ASTM D8331標準認證：全球認可的專業測量標準
為了驗證貼膜對測量的影響，我們還測試了市售鋼化膜在撕開保護膜前后的厚度變化。結果發現：
同一片貼膜，在撕膜前后的膜厚數據不同。我們初步判斷，這可能源于膠水層因形變/應力釋放產生厚度差異——這再次印證了 SpecMetrix 對極薄層/膠層變化極為敏感。
雖然我們尚無法判斷這層13μm涂層的具體成分，也無法通過成品手機屏幕了解涂層分布結構，但可以確定的是：
SpecMetrix® 可以穩定測得玻璃屏幕上的涂層厚度，并為消費電子表面處理質量控制提供可能的測量依據。
想進一步了解其在玻璃蓋板、涂層功能膜、觸控模組、AR/AG/AF處理層的測試潛力？我們歡迎更多供應鏈客戶提供中間產物樣品，一起推動“屏幕涂層測得準"的未來落地。
工業物理旗下 SpecMetrix® 涂層厚度分析系統憑借其非接觸、亞微米級、實時數據測量能力，為我們帶來了這次探索性驗證的結果：
?? 手機屏幕表面確實存在平均厚度約13μm的涂層
?? 測量數據高度一致，干涉信號清晰穩定
?? SpecMetrix 可適配實驗室快速驗證、研發支持及未來生產質量閉環應用
我們歡迎更多電子顯示行業、玻璃蓋板工藝、功能性涂層領域的客戶來挑戰SpecMetrix的極限測量能力。
?? 工業物理中國總部位于上海浦東，并在香港設有亞太技術與服務中心，可提供現場演示、樣品寄測及應用方案研討。歡迎您到訪交流或聯系試樣演示，共探涂層厚度檢測的更多可能！
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